Tin mới
(5)
Email:
info@redstarvietnam.com
Bán hàng trực tuyến
- Quý khách vui lòng gửi email về: info@redstarvietnam.com
Tư vấn kỹ thuật
Gửi mail tư vấn kỹ thuật: info@redstarvietnam.com
Sitemap
Đóng góp ý kiến
Đăng ký
Đăng nhập
Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam
Giỏ hàng
0
Tổng :
0
đ
Trang chủ
›
Thiết bị Phân tích
>>
Kính hiển vi điện tử (SEM/TEM/STEM)
>>
Hệ thống chùm ion hội tụ kết hợp hiển vi điện tử quét (FIB/FIB-SEM)
Thiết bị Thí nghiệm
Thiết bị Phân tích
Thiết bị Đo lường
Thiết bị Chế tạo
Dụng cụ và hóa chất thí nghiệm
Dịch vụ Phân tích
Khuyến mại
Thiết bị y tế
Tìm theo
Thương hiệu
HITACHI
Xếp theo |
Sắp xếp theo
Mới nhất
Giá tăng dần
Giá giảm dần
Lượt xem
Đánh giá
Tên A->Z
So sánh
Kính hiển vi ion hội tụ kết hợp điện tử quét Hitachi ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Kính hiển vi ion hội tụ kết hợp điện tử quét Hitachi FIB-SEM NX9000
Giá liên hệ
Là hệ thống FIB-SEM mới được phát triển bởi hãng HITACHI, NX9000 được tích hợp cấu trúc tối ưu để thực hiện quá trình ăn mòn mặt cắt theo chuỗi phân giải cao, qua đó giải quyết được các thách thức mới nhất trong phân tích cấu trúc 3D và phân tích TEM.
Hệ thống FIB-SEM NX9000 đạt độ chính xác cao nhất trong quá trình nghiên cứu và chế tạo ở các ngành liên quan đến vật liệu tiên tiến, linh kiện điện tử, mô sinh học và vô số các lĩnh vực khác.
Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi MI4050
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi MI4050
Giá liên hệ
MI4050 là hệ thống Hiển vi chùm ion hội tụ hiệu suất cao của Hitachi. Được trang bị hệ quang học thế hệ mới, MI4050 cho độ phân giải hiển vi SIM hàng đầu thế giới và chuẩn bị mẫu hiển vi TEM độ nét cao nhờ cải tiến độ phân giải ảnh ở thế gia tốc thấp.
MI4050 có thể đáp ứng yêu cầu của nhiều ứng dụng khác nhau như quan sát mặt cắt, chỉnh sửa mạch, tạo hình nano-micro, tạo khuôn nano, chế tạo cơ cấu 3D nano sử dụng chức năng phủ, v.v.
FIB-SEM Hybrid System XVision 200
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
FIB-SEM Hybrid System XVision 200
Giá liên hệ
FIB-SEM hybrid system equipped with Hitachi High-Tech Science's latest FIB column and high performance FE-SEM, and FIB-SEM-Ar Triple Beam system equipped with ultra low kV Ar column which can handle the small sample to 200 mm wafer deliver such as high quality TEM sample preparation, Cut&See realtime high resolution obervation and 3D analysis, and EDS analysis.
FIB-SEM Hybrid System XVision 300
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
FIB-SEM Hybrid System XVision 300
Giá liên hệ
1. High Quality TEM Lamella Preparation:
Combination of low acceleration voltage FIB and Ar ion beam enables high quality TEM lamella prepatation
2. Real-time Monitoring
Real-time image monitoring at high magnification during Ga ion beam processing is possible with SEM.
3. High Throughput
High throughput cross-sectioning and TEM lamella preparation with high current FIB is possible.
4. Continuous TEM Lamella Auto-finishing Software
"Continuous A-TEM" a continuous TEM lammela finishing software is installed, enabling automatic creation of TEM lamella.
3D analysis holder
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
3D analysis holder
Giá liên hệ
This is a sample rotation holder commonly usable for FIB and STEM in order to observe a micro-sample processed in the shape of a pillar with an FIB system. It is effectively usable for 3-dimensional structural evaluation of electronic devices under miniaturization and for stereoscopic failure analysis.
Micro-sampling system
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Micro-sampling system
Giá liên hệ
Enables high-throughput analysis
A micro-sampling method (patented in Japan and the U.S.) was developed as a tool for analyzing semiconductor devices which are moving rapidly toward smaller scales. It takes about 1 hour from picking up a micro-sample to analyzing it by STEM. The position accuracy is under 0.1 µm.
Kính hiển vi chùm ion hội tụ & điện tử quét Hitachi DUE'T ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Kính hiển vi chùm ion hội tụ & điện tử quét Hitachi DUE'T NB5000
Giá liên hệ
Hệ thống Hiển vi Chùm ion hội tụ & Điện tử quét (FIB-SEM) của Hitachi cho phép phân tích cỡ nano các thiết bị vi mô và vật liệu chức năng với hiệu suất cao chưa từng có.
Hiệu suất và độ tin cậy vượt trội của Hitachi bên trong một hệ thống tích hợp (Hiển vi Chùm ion hội tụ (FIB) và Hiển vi Điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM) hiệu suất siêu cao) cho phép chuẩn bị mẫu năng suất cao, chụp ảnh độ phân giải cao và phân tích cũng như thiết kế và chế tạo các cấu trúc nano chính xác. Các kỹ thuật chế tạo mới cũng đã được phát triển cho các loại vật liệu nhạy cảm với bức xạ điện tử. Các cải tiến trong quy trình nạp mẫu, thăm dò mẫu và kỹ thuật Micro-sampling*1 giúp tăng hiệu suất phân tích.
Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi FB2200
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Kính hiển vi chùm ion hội tụ Hitachi FB2200
Giá liên hệ
Sản phẩm thế hệ mới cho năng suất, chất lượng và độ chính xác cao hơn.
Có thể sử dụng để chuẩn bị mẫu hiển vi cho TEM nhờ khả năng đánh bóng ion diện tích lớn.