Tin mới
(5)
Email:
info@redstarvietnam.com
Bán hàng trực tuyến
- Quý khách vui lòng gửi email về: info@redstarvietnam.com
Tư vấn kỹ thuật
Gửi mail tư vấn kỹ thuật: info@redstarvietnam.com
Sitemap
Đóng góp ý kiến
Đăng ký
Đăng nhập
Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam
Giỏ hàng
0
Tổng :
0
đ
Trang chủ
›
Thiết bị Đo lường
>>
Vật liệu chức năng
>>
Máy kiểm tra nguyên liệu
Thiết bị Thí nghiệm
Thiết bị Phân tích
Thiết bị Đo lường
Thiết bị Chế tạo
Dụng cụ và hóa chất thí nghiệm
Dịch vụ Phân tích
Khuyến mại
Thiết bị y tế
Tìm theo
Xếp theo |
Sắp xếp theo
Mới nhất
Giá tăng dần
Giá giảm dần
Lượt xem
Đánh giá
Tên A->Z
So sánh
Máy phân tích nguyên tố trên PCB và Wafer FISCHERSCOPE® XDLM®-PCB
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích nguyên tố trên PCB và Wafer FISCHERSCOPE® XDLM®-PCB
Giá liên hệ
FISCHER provides a comprehensive range of specific XRF instruments for coating thickness measurement and material analysis on printed circuit boards (PCB) and wafers.
Máy phân tích vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 315
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 315
Giá liên hệ
Cost-effective and compact entry-level X-Ray Fluorescence (XRF) Measuring Instrument for fast and non-destructive Analysis and Coating Thickness Measurement of Gold and Silver Alloys
Máy phân tích hợp kim vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 220
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích hợp kim vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 220
Giá liên hệ
X-ray fluorescence measuring instrument for fast and non-destructive analysis of gold and silver alloys
Máy phân tích vật liệu đa năng FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích vật liệu đa năng FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
Giá liên hệ
Universal high performance X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument for fast and non-destructive material analysis and coating thickness measurement
Máy phân tích vật liệu tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích vật liệu tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
Giá liên hệ
X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument with a programmable X/Y-stage and Z-axis for automated measurements of coating thicknesses and for material analysis
Máy phân tích nguyên tố tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích nguyên tố tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
Giá liên hệ
High performance X-ray fluorescence (XRF) measuring system with a programmable XY-stage and Z-axis for automated measurements of very thin coatings and for trace analysis
Máy phân tích vật liệu trong môi trường chân không ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy phân tích vật liệu trong môi trường chân không FISCHERSCOPE® X-RAY XUV® 773
Giá liên hệ
High performance X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument with vacuum chamber for non-destructive material analysis
Phần mềm phân tích vật liệu Software WinFTM®
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Phần mềm phân tích vật liệu Software WinFTM®
Giá liên hệ
Software for all FISCHERSCOPE® X-RAY fluorescence measuring systems, runs under Windows®
Vật liệu hiệu chuẩn
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Vật liệu hiệu chuẩn
Giá liên hệ
All FISCHERSCOPE® XRF measuring systems perform precise measurement results, even without calibration, due to the integrated fundamental parameter method. If the traceability of measurement results is required, then calibration standards of FISCHER are the right choice.
Phụ kiện
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Phụ kiện
Giá liên hệ
Press tool for chips, e.g. for pressing gold chips
Measuring cells for solution analysis
Several sample support plates, e.g. with radiation traps
Vices for sample fixing
