Tin mới
(5)
Email:
info@redstarvietnam.com
Bán hàng trực tuyến
- Quý khách vui lòng gửi email về: info@redstarvietnam.com
Tư vấn kỹ thuật
Gửi mail tư vấn kỹ thuật: info@redstarvietnam.com
Sitemap
Đóng góp ý kiến
Đăng ký
Đăng nhập
Công ty TNHH Sao Đỏ Việt Nam
Giỏ hàng
0
Tổng :
0
đ
Trang chủ
›
Thiết bị Đo lường
>>
Vật liệu chức năng
>>
Máy độ độ dày lớp phủ
>>
Phương pháp huỳnh quang tia X (XRF)
Thiết bị Thí nghiệm
Thiết bị Phân tích
Thiết bị Đo lường
Thiết bị Chế tạo
Dụng cụ và hóa chất thí nghiệm
Dịch vụ Phân tích
Khuyến mại
Thiết bị y tế
Tìm theo
Xếp theo |
Sắp xếp theo
Mới nhất
Giá tăng dần
Giá giảm dần
Lượt xem
Đánh giá
Tên A->Z
So sánh
Thiết bị đo lường chiều dày lớp phủ và vi cấu trúc 2,5D ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Thiết bị đo lường chiều dày lớp phủ và vi cấu trúc 2,5D & 3D FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI
Giá liên hệ
Hands-free X-Ray metrology solution for microstructure measurements of 2.5D and 3D wafer packaging applications.
Máy đo chiều dày lớp phủ bảng mạch điện tử và phiến ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo chiều dày lớp phủ bảng mạch điện tử và phiến bán dẫn FISCHERSCOPE® XDLM®-PCB
Giá liên hệ
FISCHER provides a comprehensive range of specific XRF instruments for coating thickness measurement and material analysis on printed circuit boards (PCB) and wafers.
Máy đo bề dày lớp phủ và phân tích nguyên tố FISCHERSCOPE® ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo bề dày lớp phủ và phân tích nguyên tố FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®
Giá liên hệ
Robust Entry-Level X-RAY Fluorescence Measuring (XRF) Instruments for Non-Destructive Material Analysis and Coating Thickness Measurement
Máy đo bề dày lớp vật liệu FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo bề dày lớp vật liệu FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®
Giá liên hệ
X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument for coating thickness measurements and analyses, even on small components
Máy đo bề dày lớp phủ hợp kim vàng và bạc FISCHERSCOPE® ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo bề dày lớp phủ hợp kim vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 315
Giá liên hệ
Cost-effective and compact entry-level X-Ray Fluorescence (XRF) Measuring Instrument for fast and non-destructive Analysis and Coating Thickness Measurement of Gold and Silver Alloys
Máy chiều dày lớp phủ hợp kim vàng và bạc FISCHERSCOPE® ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy chiều dày lớp phủ hợp kim vàng và bạc FISCHERSCOPE® XAN® 220
Giá liên hệ
X-ray fluorescence measuring instrument for fast and non-destructive analysis of gold and silver alloys
Máy đo bề dày lớp phủ đa năng FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo bề dày lớp phủ đa năng FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
Giá liên hệ
Universal high performance X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument for fast and non-destructive material analysis and coating thickness measurement
Máy đo chiều dày lớp màng tự động FISCHERSCOPE® XDL®
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo chiều dày lớp màng tự động FISCHERSCOPE® XDL®
Giá liên hệ
X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument for manual or automated coating thickness measurements on functional coatings, corrosion protection coatings and mass-produced parts
Máy đo chiều dày lớp phủ linh kiện điện tử FISCHERSCOPE® ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo chiều dày lớp phủ linh kiện điện tử FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®
Giá liên hệ
X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument for manual or automated coating thickness measurements and analyses on pc-boards, electronics components and mass-produced parts, even on small components
Máy đo độ dày lớp phủ tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ dày lớp phủ tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
Giá liên hệ
X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument with a programmable X/Y-stage and Z-axis for automated measurements of coating thicknesses and for material analysis
Máy đo bộ dày lớp phủ siêu mỏng tự động FISCHERSCOPE® ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo bộ dày lớp phủ siêu mỏng tự động FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD
Giá liên hệ
High performance X-ray fluorescence (XRF) measuring system with a programmable XY-stage and Z-axis for automated measurements of very thin coatings and for trace analysis
Máy đo độ dày màng tự động FISCHERSCOPE® XDV®-µ
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ dày màng tự động FISCHERSCOPE® XDV®-µ
Giá liên hệ
X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument with a polycapillary x-ray optics for automated measurements and analyses of coating thicknesses and compositions on very small components and structures
Máy đo độ dày lớp phủ trong môi trường chân không ...
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ dày lớp phủ trong môi trường chân không FISCHERSCOPE® X-RAY XUV® 773
Giá liên hệ
High performance X-ray fluorescence (XRF) measuring instrument with vacuum chamber for non-destructive material analysis
Máy đo độ dày lớp phủ online FISCHERSCOPE® X-RAY 4000
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo độ dày lớp phủ online FISCHERSCOPE® X-RAY 4000
Giá liên hệ
X-ray fluorescence (XRF) measuring system for continuous in-line measurement and analysis in production processes, on flat and stamped strips, also with formed and stamped contact areas
Máy đo chiều dày vật liệu online FISCHERSCOPE® X-RAY 5000
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Máy đo chiều dày vật liệu online FISCHERSCOPE® X-RAY 5000
Giá liên hệ
X-ray fluorescence (XRF) measuring system for continuous in-line measurement and analysis of thin coatings, i.e. CIGS, CIS, and CdTe, in production processes
Vật liệu hiệu chuẩn
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Vật liệu hiệu chuẩn
Giá liên hệ
All FISCHERSCOPE® XRF measuring systems perform precise measurement results, even without calibration, due to the integrated fundamental parameter method. If the traceability of measurement results is required, then calibration standards of FISCHER are the right choice.
Phần mềm đo độ dày lớp vật liệu Software WinFTM®
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Phần mềm đo độ dày lớp vật liệu Software WinFTM®
Giá liên hệ
Software for all FISCHERSCOPE® X-RAY fluorescence measuring systems, runs under Windows®
Phụ kiện
Liên hệ
Tình trạng:
Kiểm tra
Phụ kiện
Giá liên hệ
Press tool for chips, e.g. for pressing gold chips
Measuring cells for solution analysis
Several sample support plates, e.g. with radiation traps
Vices for sample fixing
